J60335-1：故障状態における電子回路の適合性

　　電子回路で想定される故障が発生したときの適合性を判断するために、
　　　　１．適用する機器とその個別試験条件
　　　　２．短絡開放試験

　　について説明します。

　　共通試験条件、共通判定基準は、異常試験概要に記載しています。

適用機器と個別試験条件

　　【適用規則】H27版：19.11項、19.11.1項、19.11.3項　　3版H14：19.11項、19.11.1項、19.11.2項

１．正しく機能するためにプログラマブル部品に依存した電子回路を組み込んでいる機器
　　（１）電源電圧降下による動作中断後の任意の時点での再始動が危険をもたらす場合は、19.11.4.8の試験を実施する。
　　（２）試験は、電源電圧降下、短時間停電及び電圧変動中にプログラマブル部品の電源電圧を維持する為の全ての部品を
　　　　　取除いて行う。

２．電子的遮断によりOFF位置を得る装置又は機器を待機モードにする装置をもつ機器は、19.11.4の試験を実施する。

３．JIS C 6575規格群に適合するミニチュアヒューズを作動させることで、故障状態下の機器の安全性を確保する場合は、
　　19.12 の試験を行う。

４．異常試験に関する要求事項に適合させるために動作する保護電子回路をもつ機器
　　（１）規定の単一故障状態を模擬して短絡開放試験を繰り返す。
　　（２）適用する判定基準は、19.13項（共通判定基準) による。

５．その他の条件
　　（１）部品交換が不要な場合、電子回路に関する最後の試験を行った後にだけ19.13項：耐電圧試験を行えばよい。
　　（２）回路図等を調べ、最も不利な結果になると思われる場合だけに限定して試験を行うことができる

短絡開放試験

　　【適用規則】H27版：19.11項、19.11.1項、19.11.2項、19.12項　　　3版H14：19.11項、19.11.1項、19.11.2項、19.12項

１．想定する故障状態
　　（１）次の故障状態を想定し、一度に1 故障を起こす。引き続いて起きる故障も加味する。
　　　　　　a)　沿面（空間）距離が規定値に満たない機能絶縁の短絡
　　　　　　b)　各部品端子部の開放
　　　　　　c)　JIS C5101-14に適合しないコンデンサの短絡
　　　　　　d)　集積回路を除く電子部品における任意の２端子間の短絡。
　　　　　　　　この故障状態は二つの回路間のオプトカプラには適用しない。
　　　　　　e)　ダイオードモードになるトライアックの故障
　　　　　　f) 　サイリスタ、トライアック等を除くマイクロプロセッサ及び集積回路の故障。
　　　　　　　　出力信号全てが部品内で故障状態になると考える。
　　　　　　　　但し、ある出力信号が発生する恐れがない場合、それに関連する故障は考えない。
　　　　　　g)　ゲート（ベース）制御を失ったときに不完全な導通状態になるスイッチング用パワーデバイスの故障
　　　　　　　　・電子電源開閉器のゲート（ベース）端子を切り離し、電子電源開閉器のゲート（ベース）端子と
　　　　　　　　　ソース（エミッタ）端子間に、可調整外部電源を接続して模擬してもよい。
　　　　　　　　・電流が電子電源開閉器を破損しない範囲で、最も不利な試験条件になるように電源を調整する
　　　　　　　　（電子電源開閉器例）電界効果トランジスタ（FET・MOSFET）、バイポーラトランジスタ（IGBT を含む）
　　（２）f)の故障状態は、回路が他の方法で評価できない場合、密封した部品及びそれと同様な部品に適用する。
　　（３）部品製造業者の仕様どおりに用いている正温度係数抵抗器は短絡しない。
　　　　　但し、PTC-S サーミスタはIEC 60738-1に適合していない場合短絡する。
　　（４）各小電力点と電源の極（小電力点測定を行った方の極）とを短絡する。

２．適用除外事項
　　　次の両方に適合する回路は、上記「想定する故障状態」を適用しない。
　　　　・機器の他の部分の感電、火災、機械的危険又は危険な誤動作に対する保護が、電子回路が正しく機能することに
　　　　　依存していない。
　　　　・電子回路が、小電力回路の場合

３．試験条件
　　（１）故障状態を起こす場合、平常温度上昇試験の条件で機器を、定格電圧で運転する。
　　（２）試験時間は次の通りとする。但し、機器内で電源の非自己復帰遮断が生じた時点で試験を打ち切る。
　　　　　　・温度変化のように故障が使用者に察知できない場合
　　　　　　　　　通常使用状態のうちの最も不利な条件に相当する期間運転する。但し、1運転サイクルだけとする。
　　　　　　・台所機器のモータが停止したときのように故障が使用者に察知できる場合
　　　　　　　　　モーター拘束試験に規定する時間。
　　　　　　・電源に接続したままにしておく回路（例：待機回路）の場合
　　　　　　　　　定常状態に達するまで
　　（３）「想定する故障状態」に対する機器の安全性が、JIS C6575規格群に適合するミニチュアヒューズ又は別表第三に
　　　　　適合するヒューズの作動に依存する場合は、そのミニチュアヒューズの代わりに電流計を用いて試験を繰り返す。
　　　　　測定した電流値に応じて次のようにする
　　　　　・ヒューズ定格電流の2.1倍以下の場合
　　　　　　　　その回路は保護が十分であるとはみなさず、ヒューズを短絡して試験を行う。
　　　　　・ヒューズ定格電流の2.75倍以上の場合
　　　　　　　　その回路は保護が十分であるとみなす。
　　　　　・ヒューズ定格電流の2.1倍を超え2.75倍未満の場合
　　　　　　　　ヒューズを短絡して次の時間試験を行う。
　　　　　　　　　　速動形ヒューズ：関連する時間又は30分間のいずれか短い方の時間。
　　　　　　　　　　タイムラグヒューズ：関連する時間又は2分間のいずれか短い方の時間。
　　　　　　　　　　速動形又はタイムラグである旨の表示がないヒューズ：関連する時間又は4分間のいずれか短い方の時間。

４．試験方法
　　（１）回路図等を用いて、1項：想定する故障状態の箇所を抽出する
　　（２）抽出した想定故障個所を1箇所故障状態にし、試験を行う。
　　　　　・想定される周辺部品・回路のの温度上昇、電流、電圧を測定する
　　　　　・必要に応じてビデオ等で状態を記録する

５．判定基準
　　（１）試験中及び試験後、巻線温度は表：許容巻線温度の規定値を超えてはならない。
　　　　　但し、これらの限度値はJIS C 61558-1の15.5に適合するフェイルセーフ変圧器には適用しない。
　　（２）共通判定基準に適合しなければならない。
　　（３）保護インピーダンスに流れる電流は、8.1.4に規定する限度値を超えてはならない。
　　（４）プリント回路板の導体が切断した場合、次の両方の条件に適合する場合に限り、適合するものとみなす。
　　　　　　・プリント回路板の基板材料が附属書E（ニールドフレーム試験）に適合する。
　　　　　　・導体の緩みにより充電部と可触金属部間の沿面（空間）距離が規定値未満にならない。