ここでは、次の3種類の異常温度上昇試験についての試験方法等を説明します
１．放熱制限試験
２．温度制御装置無効試験
３．シース接続試験
４．ステップストレス試験
共通試験条件、共通判定基準は、異常試験概要を参照してください
【適用規則】H27版：19.2項、19.3項 3版H14：19.2項、19.3項
１．試験対象
電熱素子を持つ機器
２．試験条件
（１）放熱を制限するために、機器の開口を全て塞ぐ。
（２）その他は平常温度上昇試験の試験条件に従う
３．試験方法
（１）定格入力で各部の温度が飽和するまで通常動作で運転する。
（２）電源電圧を定格入力の0.85倍に変更し、各部の温度が飽和するまで運転する。
（３）電源電圧を定格入力の1.24倍に変更し、各部の温度が飽和するまで運転する。
【適用規則】H27版：19.4項 3版H14：19.4項
１．試験対象
電熱素子を持ち、温度を制限する制御装置を持つ機器
２．試験条件
（１）温度を制限する制御装置は短絡させる。
（２）制御装置が2個以上ある場合は、制御装置を1個づつ短絡して試験を行う。
（３）その他は平常温度上昇試験の試験条件に従う
３．試験方法
（１）定格入力の1.15倍で、各部の温度が飽和するまで運転する
【適用規則】H27版：19.5項 3版H14：19.5項
１．試験対象・非対象
（１）管型シース式電熱素子（シーズヒーター）又は埋込式電熱素子を持つクラス０Ⅰ機器及びクラスⅠ機器
（２）次の機器は試験対象外とする。
・固定配線に恒久的に接続する機器
・19.4項：温度制御装置無効試験の試験中、全極断路が生じる機器
２．試験条件
（１）温度を制御する制御装置は短絡させない。
（２）中性線をもつ機器は、中性線をシースに接続する。埋込式電熱素子の金属外郭はシースとみなす。
（３）その他の試験条件は19.4項：温度制御装置無効試験に従う。
３．試験方法
（１）定格入力の1.15倍で、各部の温度が飽和するまで運転する。
（２）供給電源の極性を逆にし、かつ、電熱素子の反対側の一端をシースに接続して、各部の温度が飽和するまで運転する
【適用規則】H27版：19.6項 3版H14：19.6項
１．試験対象
PTC電熱素子を持つ機器
２．試験方法
（１）各部の温度が飽和するまで、定格電圧で運転する。
（２）PTC電熱素子の動作電圧を5％増加させて、各部の温度が飽和するまで運転する。
（３）次のいずれか先に発生するまで動作電圧を5%ずつ増加させ、その都度、各部の温度が飽和するまで運転する。
・PTC動作電圧の1.5倍になるまで
・PTC電熱素子が断線するまで
