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標準試験条件 (情報機器)

はじめに

   技術基準に基づく試験は、極力再現性の高い試験でなければなりません。そのために、標準的な試験

   条件を決めて、行うようにしています。

   試験を行うときは、この標準試験条件と、試験毎の個別試験条件に従って実施する必要があります。

 

   ここでは、IEC-J60950-1(H26):JIS C9650-1:2012に従った主な標準試験条件をご紹介します。

試験環境に関するもの

    試験環境に関する試験条件は以下となります。

 

表4-33 試験環境に関する試験条件

設定項目 試験条件 備考

試験電源の

周波数

(1)最も不利となる定格周波数で試験を

 行います。

(1)定格周波数の許容差は、通常考慮する

 必要はありません。

試験電圧

(1)最も不利となる電源電圧で試験を

 行います。

(2)定格電圧の許容差

  +6%及び-10%が基本となります。

  但し、定格電圧が単相230V又は三相

  400V製品の許容差は+10%及び

  −10%とします。

(3)直流主電源へ接続する機器

  20%及び−15%とします。

(1)製造業者が許容差を宣言している場合は

 その許容差で試験を行います。

 

(2)直流主電源へ接続する機器の場合は、

 極性による影響を考慮する必要がありま

 す

機器の構造・機構・操作等に関するもの

   機器の構造・機構・操作等に関する標準試験条件は以下となります。

 

表4-34 機器の構造・機構・操作等に関する標準試験条件

設定項目 試験条件 備考
負荷

(1)最も不利となるように負荷を調整します。

 a)製造業者が提供する組込又は同時使用するオプショ

  ン品の負荷

 b)電力供給可能な回路への接続による負荷

 c)操作者アクセスエリアで標準電源供給用コンセント

  に接続できる負荷。

(1)標準電源供給用コンセントに接続できる負荷は定格表示内の負荷とします。

 

(2)疑似負荷用いて試験する事が出来ます。

技術基準

 IEC-J60950-1(H26):JIS C6950-1:2012 1.4.5、1.4.6、1.4.10項

 

 

 

 

 

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